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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
非接觸式光學(xué)膜厚儀AT-1500
非接觸式光學(xué)膜厚儀AT-1500
非接觸式光學(xué)膜厚儀AT-1500
詳情介紹：
非接觸式光學(xué)膜厚儀
本設(shè)備操作簡單，放置樣品即可測量的。一步到位。
縮短檢查工程，無標(biāo)準(zhǔn)曲線，精度高，分辨率高，輕松測量樣品的**厚度。
光學(xué)方式為大冢電子**，不僅外形小巧，無論透明?粗糙還是易變形的樣品，都可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的高精度測量。
產(chǎn)品信息
特長
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非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品
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反復(fù)性?再現(xiàn)性高
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無標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道**厚度
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測量徑很小，不受斑點(diǎn)的影響
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樣品位置無需調(diào)整，放進(jìn)去即可。
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穩(wěn)定性高，不會產(chǎn)生誤差，所以誰都能操作。
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光學(xué)方式原理所以**
式樣
構(gòu)成圖?原理
構(gòu)成圖
任何人都會測量
原理
將光分別照射樣品上下部
測量距離基準(zhǔn)面的距離。
d=dall-(d1+d2)
比較測量方法
樣品例子和測量方法的比較
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非接觸光學(xué)膜厚儀 | 接觸式膜厚儀 | X線式膜厚儀 | 変位計(jì) | |
|---|---|---|---|---|---|
| 樣品 | 凝膠片 | ○ | × | ○ | ○ |
| 不織布 | ○ | × | ○ | × | |
| 金屬板 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 樹脂 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 多孔質(zhì) | ○ | △ | ○ | × | |
| 陶瓷 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 紙?木 | ○ | ○ | ○ | × | |
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測量 條 件 |
測量時(shí)間 | ○ 高速 | ○ | ○ | ○ |
| 非接觸測量 | ○ 非接觸 | × | ○ | ○ | |
| 前處理 | ○ 不要 | ○ | × | ○ | |
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