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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種通過使用顯微光譜測量微小區(qū)域內(nèi)的優(yōu)良反射率，實現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。
可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等鍍膜的厚度。可進(jìn)行1秒/點測量時間的高速測量。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹：
- 膜厚測量所需的功能集成在頭部
- 使用顯微光譜進(jìn)行高精度優(yōu)良反射率測量（多層膜厚度、光學(xué)常數(shù)）
- 1點1秒內(nèi)高速測量
- 在微觀條件下（紫外到近紅外）實現(xiàn)寬測量波長范圍的光學(xué)系統(tǒng)
- 區(qū)域傳感器的**機制
- 簡單的分析向?qū)?，即使是初學(xué)者也能分析光學(xué)常數(shù)
- 配備宏功能，可讓您自定義測量順序
- 可以分析復(fù)雜的光學(xué)常數(shù)（多點分析法）
- 兼容 300mm 載物臺
- 支持各種自定義
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