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日本HORIBA堀場|激光粒度分析儀 LA-350 | 01日本HORIBA堀場 LA-350儀器用途及應(yīng)用范圍：HORIBA LA-350激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域。基于LA系列分析儀的先進光學(xué)設(shè)計，LA-350實現(xiàn)了高性能、易操作、低維護和高效益的優(yōu)點。生物制藥乳液、微粉表征活性成分和輔料的粒度分布研磨過程控制造粒過程控制*終產(chǎn)品質(zhì)量控制：糖漿、疫苗02日本HOR發(fā)布時間：2023-12-21 17:18 點擊次數(shù)：137 次
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日本HORIBA堀場:共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應(yīng)力 日本HORIBA堀場:共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應(yīng)力|前沿用戶報道共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應(yīng)力InterfacialstresscharacterizationofGaNepitaxiallayerwithsapphiresubstratebyconfocalRamanspectroscopy本文亮點不同的襯底上異質(zhì)外延生長的GaN薄膜，通常在界面處存在一發(fā)布時間：2023-08-24 17:57 點擊次數(shù)：134 次
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日本HORIBA堀場:計量學(xué)，HORIBA 的顆粒檢測和去除系統(tǒng)對于提高半導(dǎo)體光刻工藝的產(chǎn)能至關(guān)重要。 日本HORIBA堀場:計量學(xué)，HORIBA的顆粒檢測和去除系統(tǒng)對于提高半導(dǎo)體光刻工藝的產(chǎn)能至關(guān)重要。日本HORIBA堀場:顆粒檢測系統(tǒng)半導(dǎo)體制程綜合顆粒檢測ForSemiconductormanufacturingprocesses,wherethemostadvancedmicro-fabricationtechniquesareused,qualitymanagementisacritical發(fā)布時間：2023-07-29 15:53 點擊次數(shù)：206 次
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日本HORIBA堀場/ 自動化薄膜測量工具/一鍵式全自動快速橢偏儀/Auto SE 日本HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀i_Product_2065323049.html?_v=1690560008薄膜表征的有效技術(shù)橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學(xué)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合獲得厚度以及光學(xué)常數(shù)等。根據(jù)薄膜材料的不同，可測量的厚度從幾個?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測量技術(shù)。橢圓偏發(fā)布時間：2023-07-28 16:29 點擊次數(shù)：167 次
