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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)
詳情介紹：
FE-5000
特 長
- フィルムなどの面內(nèi)膜厚ムラ検査、**を高速?高精度に測定
- ハード?ソフト共にオリジナル設(shè)計(jì)
- 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
- 分光測定による高精度な膜厚測定（特許取得）
- 高速に測定が可能（500萬ポイント以上/分）OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計(jì)
仕様
| 測定項(xiàng)目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm 以下 |
| 測定サイズ | *大250mm幅 × 長さ制限なし |
| 波長範(fàn)囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子當(dāng)たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範(fàn)囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
| 裝置サイズ | W600 × D680 × H1250mm |
測定例
250mm幅のフィルムの場合
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