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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型
該設(shè)備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。
整個表面可以快速、高精度地測量。
詳情介紹：
江蘇地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
上海地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
浙江地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
安徽地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
江蘇地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
江蘇地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售
特點
- 可以檢查薄膜等面內(nèi)膜厚不均
- 高速、高精度地測量整個表面
- 由于我們是薄膜厚度測量的專業(yè)制造商，我們可以提供全 面的支持
- 通過光譜測量實現(xiàn)高精度薄膜厚度測量
- 硬件和軟件的原始設(shè)計
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規(guī)格
| 測定範(fàn)囲 | 0.7～300 μm |
| 測定幅 | 250 mm |
| 測定間隔 | 10 ms～ |
| 裝置サイズ(W×D×H) | 459×609×927 mm |
| 重量 | 60 kg |
| 消費電力 | AC100 V±10% 125 VA |
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