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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
詳情介紹：
KOSAKA小坂
SEF580A-M50
可以進(jìn)行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應(yīng)各種工件的測量。
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表面粗糙度測量
- 可以在一次測量中分析具有不同標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù)，并且可以順利過渡到新標(biāo)準(zhǔn)。
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輪廓形狀測量
- X軸上的*大測量采樣點(diǎn)數(shù)高達(dá)64，000，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的長距離測量。
SEF580A-M50表面粗糙度
| 測量范圍/分辨率 | Z軸：600微米/0.08納米 |
|---|---|
| 進(jìn)給速度 | 0.02~10毫米/秒 |
| 唱針 | R2μm 0.75mN以下 |
輪廓形狀
| 測量精度 |
Z：±0.25%（我們的標(biāo)準(zhǔn)）X：±（1+0.02L）μm或更小 L：測量長度（毫米） |
|---|---|
| 測量范圍 | Z軸：50毫米 X：100毫米 |
| 唱針 | R25μm 10~30mN |
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