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紫外可見光光度計(jì)
總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 國內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)
總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2
粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm
SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準(zhǔn)確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦?，也可實(shí)現(xiàn)對小體積樣品的測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！
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SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。
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使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
SZ-100-S2 測量規(guī)格
| 型號 | SZ-100-S2（**粒徑和分子量測量） |
|---|---|
| 測量原理 |
粒度測量：動態(tài)光散射 分子量測量：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)散射光強(qiáng)度） |
| 測量范圍 |
粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點(diǎn)） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1 |
| *大樣品濃度 |
40%*2 |
| 粒度測量精度 |
以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化） |
| 測量角度 |
90°和173°（自動或手動選擇） |
| 樣品池 | 比色皿 |
| 測量時(shí)間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結(jié)果） |
| 所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異） |
| 分散劑 | 水、乙醇、有機(jī)溶劑 |
尺寸（毫米）
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